WEKO3
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RQAシリーズにおける零外挿法に関する検討
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名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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T01534-001.pdf (5.0 MB)
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|
Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2018-10-23 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | RQAシリーズにおける零外挿法に関する検討 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
著者 |
小林, 航平
× 小林, 航平 |
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著者(ヨミ) |
コバヤシ, コウヘイ
× コバヤシ, コウヘイ |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 一般撮影に用いられる受像システムはCRやFPDの出現によりデジタルX線画像検出システムへ移行され,性能も急速に発展している。そこでデジタルX線画像検出システムの画像特性の評価が多くの施設で行われるようになった.その際の線質条件として用いられるのがRQAシリーズである.RQAシリーズで設定される付加フィルタは,人体透過後の線質を考慮しているため非常に厚く,半価層決定時の際には散乱線の影響が無視できない.散乱線の影響を考慮する半価層測定法に零外挿法がある.この方法は,付加フィルタ面上の照射面積を変化させ,それぞれの照射面積で算出された半価層と照射面積の関係を作図し,照射面積を零に外挿するものである.本研究は零外挿法使用の有無によるRQAシリーズの評価とともに,SNR_<in>^2への影響を実測とモンテカルロシミュレーションより求め,零外挿法の有用性を検討した.半価層測定では管電圧を固定し,付加フィルタを調節して既定の半価層に合わせる手法を用いた.SCDを150cm,付加フィルタおよび半価層測定用フィルタは焦点近傍に配置した.半価層測定用フィルタを挿入して減弱曲線を作成し,得られた曲線から内挿法により算出した.次に,コリメータ径を13,24,38,48,60mmφと変化させそれぞれの線質で半価層を算出した.得られた半価層とコリメータ径の関係式を零外挿し,散乱線の影響を零とする半価層を算出した.零外挿した値がIEC62220-1-1の定義した半価層と一致するよう再度付加フィルタを設定し,散乱線の影響を加味した付加フィルタと通常の手法で設定した付加フィルタでスペクトルを測定し,SNR_<in>^2を算出した.モンテカルロ計算コードのPHITSを用いて同様のジオメトリを作成し,スペクトルを取得したのちに実測とPHITSで得られたSNR_<in>^2の比較検討を行った.IEC62220-1-1が推奨するSCDで得られた半価層について零外挿を行った結果,各線質に散乱線の影響が含まれていることが確認できた.付加フィルタからの散乱線を考慮したRQAを実現するのであれば,零外挿値がIEC62220-1-1の規定する半価層になるように合わせることが望ましい.また,RQA設定時の手法の違いが画像評価指標に影響を与えることが示唆された.零外挿したものとIECが推奨する測定法で設定した付加フィルタではRQA9に関してSNR_<in>^2に5%程度の誤差が見られた.RQA3では半価層の再設定が困難であったが,RQA5~9に関しては零外挿を用いた半価層設定を行うことが望ましいと考える.SNR_<in>^2の算出に際し,PHITSを使用したが,実測とは最大で15%ほどの誤差であった.試行回数やbinの増加で改善できると考えられ,シミュレーションソフトを用いて簡易的に線質の確認ができることが示唆された. | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 首都大学東京, 2018-03-25, 修士(放射線学) | |||||
書誌情報 | p. 1-45, 発行日 2018-03-25 | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | AM | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 修士(放射線学) | |||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | 首都大学東京 | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2018-03-25 |